本文標題:原子力顯微鏡電性能測試時需要導電性能
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2014-7-29 11:00:55
原子力顯微鏡電性能測試時需要導電性能
利用電性能測試時需要導電性能良好的載體，如石墨或鍍有金屬的基片。
樣晶的厚度包樣臺的厚度，最大試樣過重，有時會影響動作，請不要放
過重的試樣。
試樣的大小以不大于試樣臺的大小為大致的標準。稍微大一點也沒問題。
但是最大值約如果未固定好就進行測量可能產生移位。請固定好后再測
定。
將本頁加入收藏
下一篇：原子力顯微鏡對生物細胞的表面形態觀察
上一篇：原子力顯微鏡常用的納米加工技術
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.gzbzhb.com/xinwen/1007.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
