021-55228110 55228660 （銷(xiāo)售咨詢(xún)）
本文標(biāo)題:什么是金相試樣截取截面的方法
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞 新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-7-9 9:44:19
什么是金相試樣截取截面的方法
通常情況下我們所說(shuō)的金相試樣截取截則是采用一
個(gè)合適的方法，這樣做可以避免在物體樣品標(biāo)本在
切割的過(guò)程中因切割不當(dāng)而引起樣品標(biāo)本顯微組織
結(jié)構(gòu)的變化。
因此我們需要注意這種顯微組織結(jié)構(gòu)變化的原因材
料是什么，這可能是金相顯微組織發(fā)生變化，還可
能是低熔點(diǎn)的金屬。
對(duì)于引起金屬金相試樣截取截面的顯微表面組織的
變化，特別需要注意是低熔點(diǎn)的金屬。
這是由于它們?cè)谇懈畹倪^(guò)程中晶體顆粒結(jié)晶溫度太
低，這就需要我們根據(jù)不同的材料選擇不同的方法
進(jìn)行金相試樣截取截。
將本頁(yè)加入收藏
下一篇：物體樣品標(biāo)本的采集的基本要求是什么
上一篇：細(xì)菌在培養(yǎng)過(guò)程的特征是什么
本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.gzbzhb.com/xinwen/1688.html
工業(yè)顯微鏡測(cè)量顯微鏡視頻顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒(méi)有資料
